關(guān)鍵字：輪胎x射線檢測(cè),復(fù)合材料檢測(cè)設(shè)備,X射線檢測(cè)設(shè)備,x射線半導(dǎo)體檢測(cè)
dbzz《百度網(wǎng)頁(yè)服務(wù)》輪胎x射線檢測(cè) 復(fù)合材料檢測(cè)設(shè)備 三磊SL 從理論上講，Ｘ射線實(shí)時(shí)成像檢測(cè)與射線照相拍片檢測(cè)對(duì)工件缺陷檢出結(jié)果應(yīng)該是相同，但是，考慮到兩者在檢測(cè)方法和檢測(cè)載體上有所不同，受某些因素的影響，例如檢測(cè)設(shè)備系統(tǒng)配置不同、射線透照參數(shù)不同、成像工藝因素的差異、特別幾何投影尺寸的差異，都會(huì)使兩者的缺陷檢出結(jié)果有所不同。試驗(yàn)表明，底片（特別是較長(zhǎng)底片）兩端與中間的對(duì)比度存在不均勻性，底片兩端細(xì)小的缺陷可能難于發(fā)現(xiàn)，而實(shí)時(shí)成像的有效檢測(cè)長(zhǎng)度較短（往往是底片長(zhǎng)度的圖像靈敏度和清晰度較好，因此，一些細(xì)小的缺陷反而容易發(fā)現(xiàn)。實(shí)時(shí)成像的圖像顯示載體是顯示器，對(duì)于某些細(xì)微的線性缺陷（例如細(xì)微的未焊透）的分布方向與顯示器掃描線平行時(shí)可能較難觀察到，而對(duì)于底片的中間位置來(lái)說(shuō)，則較易觀察到。因此，應(yīng)對(duì)Ｘ射線實(shí)時(shí)成像檢測(cè)和射線拍片檢測(cè)的缺陷檢出情況進(jìn)行互相驗(yàn)證，驗(yàn)證的結(jié)果兩者的符合率應(yīng)達(dá)到以上。另外還有一層考慮：由于射線拍片檢驗(yàn)已有較長(zhǎng)的歷史，人們往往會(huì)習(xí)慣用底片觀察的結(jié)果去檢驗(yàn)Ｘ射線實(shí)時(shí)成像檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性，只有當(dāng)兩者的符合率達(dá)到>％以上，人們才會(huì)對(duì)實(shí)時(shí)成像的檢測(cè)結(jié)果表示信服，因此，對(duì)缺陷檢出符合率的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)評(píng)就顯得更有必要。
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