關(guān)鍵字:蘇州高低溫試驗(yàn)箱,蘇州低溫箱 dbzz
設(shè)備用途
設(shè)備主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品,以及其原器件,及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。本試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶(hù)自定要求,在低溫、高溫、條件下,對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試,測(cè)試后,通過(guò)檢測(cè),來(lái)判斷產(chǎn)品的性能,是否仍然能夠符合預(yù)定要求,以便于產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠(chǎng)檢驗(yàn)用。
設(shè)備符合標(biāo)準(zhǔn)
GB 10589 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB 10592 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB 11158 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T5170.2 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB2423.1 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
GB2423.2 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
GB2424.1 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則
型號(hào) |
GDW-50 |
GDW-100 |
GDW-150 |
GDW-225 |
工作室尺寸:mm |
350×350×450 |
400×450×550 |
500×500×600 |
500×600×750 |
型號(hào) |
GDW-408 |
GDW-800 |
GDW-1000 |
GDW-1500 |
工作室尺寸:mm |
650×750×850 |
800×1000×1000 |
1000×1000×1000 |
1500×1000×1000 |
技
術(shù)
參數(shù) |
溫度范圍 |
A型-20℃+100℃(+150℃)/ B型 -40℃+100℃(+150℃)
C型 -70℃+100℃ |
波動(dòng)度 |
≤±0.5℃ |
均勻度 |
≤2℃ |
升溫速率 |
1.03.0℃/min |
降溫速率 |
0.71℃/min | |